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Gemix — Grading Report

Grading Report

理由のない評価に、価値は宿らない。
Grading Reportで全てを明らかに。

Why Choose Gemix

“なぜこの評価なのか?”

根拠のない鑑定は、もう終わりにする。

GRADE

7

2

CODES

S1

C1

D

4

CERTIFICATE

CERT No.

0000 0000 0000

1

日本初の詳細レポート

傷・折れ・汚れを個別コードで記録。なぜこの評価なのか、根拠をすべて開示する日本初のレポート

2

グレードへの影響を容易に理解

各コードがグレードに与える影響を数値化。どの傷がどう響いたか、一目瞭然

3

高画質の画像で確認可能

欠陥箇所を高解像度の画像で記録。遠隔地からでも、カードの状態をありのままに

4

改ざん不可のオンラインレポート

改ざん不可のオンライン証明書。カードの真正性を永続的に刻む、揺るぎない保証

12+

グレーディングコード

Grading Codes

100%

オンライン証明書

Online Certificate

特許

出願中の独自技術

Patent Pending

改ざん不可

レポート保証

Tamper-proof Report

Comparison

他社との違い

日本初、根拠のある鑑定。
Gemixだけが開示する4つの差。

他社

Gemix

01

評価の理由

グレード詳細なし

なぜその評価なのか、理由は非公開

グレード詳細あり

傷・折れ・汚れを個別コードで完全開示

02

欠陥の場所

欠陥箇所が不明

どこに問題があるか不明のまま

欠陥箇所を表記

どの箇所が評価に影響したか一目瞭然

03

状態の記録

画像なし

文字情報のみ。状態の視覚確認は不可

高画質画像あり

高解像度画像でカードの状態を記録

04

評価の一貫性

鑑定結果にばらつき

担当者・タイミングで評価がぶれる

公平な鑑定結果

独自の基準で客観的・再現性のある評価

01

評価の理由

他社

グレード詳細なし

なぜその評価なのか、理由は非公開

Gemix

グレード詳細あり

傷・折れ・汚れを個別コードで完全開示

02

欠陥の場所

他社

欠陥箇所が不明

どこに問題があるか不明のまま

Gemix

欠陥箇所を表記

どの箇所が評価に影響したか一目瞭然

03

状態の記録

他社

画像なし

文字情報のみ。状態の視覚確認は不可

Gemix

高画質画像あり

高解像度画像でカードの状態を記録

04

評価の一貫性

他社

鑑定結果にばらつき

担当者・タイミングで評価がぶれる

Gemix

公平な鑑定結果

独自の基準で客観的・再現性のある評価

Gemixは、鑑定に「根拠」を返す。

日本初の詳細コード開示・高画質画像記録・オンライン証明書。すべては、カードの価値を正確に伝えるために。

PSA・BGS・CGC との詳しい比較を見る

Full Transparency

傷ひとつまで、 根拠を見せる。

特許出願中

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特許出願中

Grading Codes

グレーディングコード

カードの評価に大きく影響を及ぼす、傷・折れ・シワは3段階で評価。
数字が大きいほど、ダメージはより深刻。

傷・折れ・シワは3段階評価

S

Scratch

傷(Scratch)- S

カード表面を走る引っかき傷。微細な一本も見逃さず記録。

S1

S2

S3

低 → 高

例: S1(微細)、S2(軽度)、S3(重度)

C

Crease / Fold

折れ・しわ(Crease/Fold)- C

カードに刻まれた折れ・しわ。深さが増すほど評価への打撃も大きい。

C1

C2

C3

低 → 高

例: C1(微細)、C2(軽度)、C3(重度)

その他の評価

D

Dent

凹み(Dent)- D

カード表面に残る凹みや押し跡。物理的な圧力の痕跡。

T

Stain

汚れ(Stain)- T

表面に刻まれた汚れ・シミ。液体によるダメージも対象。

I

Ink

表面の曇り(Ink)- I

表面の曇り・透明感の喪失・色落ち。カードの鮮度を損なうダメージ。

FD

Factory Defect

工場欠陥(Factory Defect)- FD

工場由来の欠陥。印刷ズレ・インク抜け等、製造段階で生じた問題。

Additional Indicators

補足表記

コードに付与される修飾子。影響度・範囲・強度を表現。

T-L

わずかな影響(Light)- L

(例)T-L(わずかな汚れ)

D!

大きい影響(Intense)- !

(例)D!(大きい凹み)

I-Z

範囲的(Zone)- Z

(例)I-Z(範囲的な色褪せ)

S1-G

全体的(Global)- G

(例)S1-G(全体的な微細な傷)

注意事項

評価への影響度

C

>

S

>

D

>

T

=

I

≫

FD

影響 大

小

コーナーとエッジの欠陥は、コード外・直接記入。

センタリングは矢印で方向を表示。

表記が一定数を超えた場合、影響度の高いものを優先記載。低影響のコードは省略。

Grade9未満かつ指摘コードが一定数以上の場合、視認性の高いレイアウトに自動変更。

Cert Verification

Grading Reportを確認

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あなたのカードにも、 評価の根拠を。

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“なぜこの評価なのか?”

曖昧なままの鑑定業界の常識に、
Gemixは透明性で風穴を開ける。

GRADE

7

2

CODES

S1

C1

D

4

CERTIFICATE

CERT No.

0000 0000 0000

1

日本初の詳細レポート

傷・折れ・汚れを個別コードで記録。なぜこの評価なのか、根拠をすべて開示する日本初のレポート

2

グレードへの影響を容易に理解

各コードがグレードに与える影響を数値化。どの傷がどう響いたか、一目瞭然

3

高画質の画像で確認可能

欠陥箇所を高解像度の画像で記録。遠隔地からでも、カードの状態をありのままに

4

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12+

グレーディングコード

Grading Codes

100%

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出願中の独自技術

Patent Pending

改ざん不可

レポート保証

Tamper-proof Report

Comparison

他社との違い

日本初、根拠のある鑑定。
Gemixだけが開示する4つの差。

他社

Gemix

01

評価の理由

グレード詳細なし

なぜその評価なのか、理由は非公開

グレード詳細あり

傷・折れ・汚れを個別コードで完全開示

02

欠陥の場所

欠陥箇所が不明

どこに問題があるか不明のまま

欠陥箇所を表記

どの箇所が評価に影響したか一目瞭然

03

状態の記録

画像なし

文字情報のみ。状態の視覚確認は不可

高画質画像あり

高解像度画像でカードの状態を記録

04

評価の一貫性

鑑定結果にばらつき

担当者・タイミングで評価がぶれる

公平な鑑定結果

独自の基準で客観的・再現性のある評価

01

評価の理由

他社

グレード詳細なし

なぜその評価なのか、理由は非公開

Gemix

グレード詳細あり

傷・折れ・汚れを個別コードで完全開示

02

欠陥の場所

他社

欠陥箇所が不明

どこに問題があるか不明のまま

Gemix

欠陥箇所を表記

どの箇所が評価に影響したか一目瞭然

03

状態の記録

他社

画像なし

文字情報のみ。状態の視覚確認は不可

Gemix

高画質画像あり

高解像度画像でカードの状態を記録

04

評価の一貫性

他社

鑑定結果にばらつき

担当者・タイミングで評価がぶれる

Gemix

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Gemixは、鑑定に「根拠」を返す。

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カードの評価に大きく影響を及ぼす、傷・折れ・シワは3段階で評価。

傷・折れ・シワは3段階評価

S

Scratch

傷(Scratch)- S

カード表面を走る引っかき傷。微細な一本も見逃さず記録。

S1

S2

S3

低 → 高

例: S1(微細)、S2(軽度)、S3(重度)

C

Crease / Fold

折れ・しわ(Crease/Fold)- C

カードに刻まれた折れ・しわ。深さが増すほど評価への打撃も大きい。

C1

C2

C3

低 → 高

例: C1(微細)、C2(軽度)、C3(重度)

その他の評価

D

Dent

凹み(Dent)- D

カード表面に残る凹みや押し跡。物理的な圧力の痕跡。

T

Stain

汚れ(Stain)- T

表面に刻まれた汚れ・シミ。液体によるダメージも対象。

I

Ink

表面の曇り(Ink)- I

表面の曇り・透明感の喪失・色落ち。カードの鮮度を損なうダメージ。

FD

Factory Defect

工場欠陥(Factory Defect)- FD

工場由来の欠陥。印刷ズレ・インク抜け等、製造段階で生じた問題。

Additional Indicators

補足表記

コードに付与される修飾子。影響度・範囲・強度を表現。

T-L

わずかな影響(Light)- L

(例)T-L(わずかな汚れ)

D!

大きい影響(Intense)- !

(例)D!(大きい凹み)

I-Z

範囲的(Zone)- Z

(例)I-Z(範囲的な色褪せ)

S1-G

全体的(Global)- G

(例)S1-G(全体的な微細な傷)

注意事項

評価への影響度

C

>

S

>

D

>

T

=

I

≫

FD

影響 大

小

コーナーとエッジの欠陥は、コード外・直接記入。

センタリングは矢印で方向を表示。

表記が一定数を超えた場合、影響度の高いものを優先記載。低影響のコードは省略。

Grade9未満かつ指摘コードが一定数以上の場合、視認性の高いレイアウトに自動変更。

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